双球差校正场发射透射电子显微镜
样例
适用领域
1) 形貌观察：对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察，包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；配合三维重构可以得到三维立体形貌；
2) 结构分析：利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析晶体材料的结构，包括金属、陶瓷、半导体等显微结构分析；
3) 成分分析：配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析，以及B(5) – Am(95)元素进行定性和半定量微区分析；可以得到原子分辨率的元素面分布图像；
4) 磁场电场测量：无场环境下对磁性样品的观察，可以实现固有磁场和电场的测量；
5) 电镜原位实验：选择特定设计的样品台进行多种原位动态实验，包括加热、通电、通气体、通液体、电化学、力学的原位测试。
样品要求
1) 对于粉末样品，要求样品均匀分散在支持膜上，或者最好是悬空的（比如使用微栅碳支持膜），并且干燥，能够区分支持膜正反面。
2) 对于块体样品，要求样品大小为直径3 mm的圆，厚度为200 nm以下；金属样品建议使用电解双喷的办法来进行最终减薄，这样获得的薄区一般比离子减薄的方法面积大。
3) 拍摄高分辨图像的样品要求厚度在10 nm以下，最好5 nm以下才能获得接近可以直接解释的原子像。
4) 可以测试磁性样品，但分辨率会有所下降。
5) 原位测试，金属样品的原位测试一般会采取聚焦离子束（FIB）切割的方法制备透射观察样品，粉末颗粒尺寸一般不超过100 nm。
收费标准
1) 标准测试：3000元/小时
2) 磁性样品、原位测试等请联系客服
仪器信息
仪器名称：双球差校正场发射透射电子显微镜
仪器型号：FEI Themis Z
