超高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM)

超高分辨冷场发射扫描电子显微镜

样例

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适用领域

1)广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究
2)在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，材料断口分析和失效分析
3)各种材料的形貌组织观察；材料实时微区成分分析
4)快速的多元素面扫描和线扫描分布测量；晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量
5)元素定量、定性成分分析
6)晶体、晶粒的相鉴定

面向学科

广泛应用于纳米材料、半导体器件、高分子材料、生物医学、新能源等学科

样品要求

1)提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等）
2)样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品
3)潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通

收费标准

1) 形貌观察（无磁性、10万倍以下） 150元/样
2) 形貌观察（磁性样、5万倍以下） 200元/样
3) EDS能谱（随形貌2个区域且无磁性） +80元/样
4) EDS能谱（随形貌2个区域且有磁性） +100元/样
5) EDS能谱（单独测且无磁性） 120元/样
6) EDS能谱（单独测且有磁性） 200元/样
7) Mapping(无磁性1个区域) 300元/样
8) Mapping(磁性1个区域) 400元/样

仪器信息

仪器名称：超高分辨冷场发射扫描电子显微镜
仪器型号：Regulus 8100

Regulus 8100保留了SU8010易维护、易操作等优点，进一步提高性能，1kV减速模式下z高分辨率达到了1.1nm，15kV达到0.8nm，高低电压均可满足高分辨的观察。